6、產(chǎn)品名稱：高對比度分辨力測試卡
產(chǎn)品編號：20250707-06
產(chǎn)品質(zhì)保：12個月
產(chǎn)品簡介：可以按照客戶要求非標定制，以下為產(chǎn)品的可供參考的：技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用說明，僅供參考，更多詳情請咨詢：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司
高對比度分辨力測試卡（又稱線對卡）是用于評估X射線成像系統(tǒng)分辨性能的核心檢測工具。該測試卡提供多種精密線對規(guī)格，包括3μm、4μm、5μm、6μm、7μm、9μm、10μm（T型）以及15μm、20μm、25μm、30μm、35μm、40μm、45μm、50μm（I型），封裝于40×30×3mm的防護盒內(nèi)，有效保護精密測試元件。其工作原理基于調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF），通過量化成像系統(tǒng)對輸入信息的傳遞效率來反映影像信息的再現(xiàn)率。
操作時需將測試卡置于射線源與探測器之間，確保X射線束中心穿透測試卡中心區(qū)域，通常貼附于影像增強器表面，并調(diào)整設(shè)備使線卡影像與掃描線呈45°角以消除干擾。曝光成像后，通過觀察底片或數(shù)字圖像上可清晰分辨的黑白柵條數(shù)量，直接獲取設(shè)備的極限分辨力（單位：LP/mm），該數(shù)值對應(yīng)線對卡上比較小可識別線對組。
主要應(yīng)用于放射衛(wèi)生DR設(shè)備、工業(yè)無損檢測系統(tǒng)的性能驗證與質(zhì)控，通過檢測圖像中可分離的比較小細節(jié)間距，吻合評估X射線機在微米/納米焦點下的成像質(zhì)量。測試結(jié)果直接決定設(shè)備能否滿足日常檢測的分辨率需求，例如在放射衛(wèi)生領(lǐng)域影響病灶識別精度，在工業(yè)檢測中關(guān)乎微裂紋的檢出能力。部分型號兼容星型測試卡輔助焦斑尺寸測量，進一步擴展設(shè)備分析維度。
廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，竭誠為您服務(wù)，我司可以非標訂制符合客戶個性化要求的產(chǎn)品和設(shè)備。
是否可以非標訂制：可以按照客戶要求非標定制：高對比度分辨力測試卡
產(chǎn)品編號：20250707-06
