空間分辨力/率測(cè)試卡
產(chǎn)品編號(hào)：20211202-05
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空間分辨力/率測(cè)試卡
產(chǎn)品編號(hào)：20211202-05
銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率:是指在某物體間對(duì)X線吸收具有高的差異、形成高對(duì)比的條件下，鑒別其細(xì)微結(jié)構(gòu)的能力。是指系統(tǒng)辨別兩個(gè)待測(cè)光纖的測(cè)量點(diǎn)的能力。因此，空間分辨率可以對(duì)應(yīng)為系統(tǒng)辨別兩個(gè)待測(cè)光纖的測(cè)量點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的中頻 FIF的能力，而辨別 FIF的大小的能力與系統(tǒng)的頻譜儀的接收機(jī)帶寬密切相關(guān)。
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線和間距/線寬：3至50 um，16英寸
16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局
上圖為大小為5μm L&S的圖像。
Au狹縫數(shù)為3行2空間。
寬度從下午3點(diǎn)到10點(diǎn)μm：t形布局
寬度15到50μm：I形狀布局LS寬度：
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
X線量的空間分布：在長(zhǎng)軸上，近陽(yáng)有效焦點(diǎn)小，X線量少；近陰有效焦點(diǎn)大，X線量多。（方位特性）。在短軸上，有效焦點(diǎn)大小對(duì)稱相等，X線量分布也對(duì)稱相等。X分辨率測(cè)試范圍：0.6到5.0 lp/mm 0.6到10 lp/mm
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空間分辨力/率測(cè)試卡
