空間分辨率測(cè)試卡
銷(xiāo)售產(chǎn)品編號(hào)：202211
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空間分辨率測(cè)試卡
銷(xiāo)售產(chǎn)品編號(hào)：20221122-08
產(chǎn)品銷(xiāo)售制造廠(chǎng)家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率是指圖像中可辨認(rèn)的臨界物體空間幾何長(zhǎng)度 的小極限,即對(duì)細(xì)微結(jié)構(gòu)的分辨率。線(xiàn)對(duì)卡，空間分辨率測(cè)試線(xiàn)對(duì)卡，列陣的線(xiàn)對(duì)束卡的用途：主要是用來(lái)測(cè)試X光攝影攝像等成像設(shè)備的分辨率能力的，是X射線(xiàn)放射衛(wèi)生質(zhì)量控制，質(zhì)量保證的射線(xiàn)分辨率范圍的主要檢測(cè)裝置和測(cè)試工具。狀態(tài)檢測(cè):在運(yùn)行中的設(shè)備，為評(píng)價(jià)其性能指標(biāo)符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。穩(wěn)定性檢測(cè):為確定X射線(xiàn)設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對(duì)于一個(gè)初始狀態(tài)的變化符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。周期對(duì)系統(tǒng)的成像性能進(jìn)行持續(xù)檢測(cè)，尤其是對(duì)那些依賴(lài)定期維護(hù)設(shè)備。當(dāng)完成初始灰度級(jí)檢測(cè)后，只需對(duì)檢測(cè)到的圖像細(xì)節(jié)和條形圖的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，即可量化圖像質(zhì)量。對(duì)這些數(shù)據(jù)的持續(xù)追蹤記錄將有助于用戶(hù)跟蹤系統(tǒng)的性能情況，對(duì)可能出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行及時(shí)預(yù)判及校準(zhǔn)。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規(guī)格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
銷(xiāo)售產(chǎn)品編號(hào)：20221122-08
產(chǎn)品銷(xiāo)售制造廠(chǎng)家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率測(cè)試卡
銷(xiāo)售產(chǎn)品編號(hào)：20221122-08
產(chǎn)品銷(xiāo)售制造廠(chǎng)家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率是指圖像中可辨認(rèn)的臨界物體空間幾何長(zhǎng)度 的小極限,即對(duì)細(xì)微結(jié)構(gòu)的分辨率。線(xiàn)對(duì)卡，空間分辨率測(cè)試線(xiàn)對(duì)卡，列陣的線(xiàn)對(duì)束卡的用途：主要是用來(lái)測(cè)試X光攝影攝像等成像設(shè)備的分辨率能力的，是X射線(xiàn)放射衛(wèi)生質(zhì)量控制，質(zhì)量保證的射線(xiàn)分辨率范圍的主要檢測(cè)裝置和測(cè)試工具。狀態(tài)檢測(cè):在運(yùn)行中的設(shè)備，為評(píng)價(jià)其性能指標(biāo)符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。穩(wěn)定性檢測(cè):為確定X射線(xiàn)設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對(duì)于一個(gè)初始狀態(tài)的變化符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。周期對(duì)系統(tǒng)的成像性能進(jìn)行持續(xù)檢測(cè)，尤其是對(duì)那些依賴(lài)定期維護(hù)設(shè)備。當(dāng)完成初始灰度級(jí)檢測(cè)后，只需對(duì)檢測(cè)到的圖像細(xì)節(jié)和條形圖的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，即可量化圖像質(zhì)量。對(duì)這些數(shù)據(jù)的持續(xù)追蹤記錄將有助于用戶(hù)跟蹤系統(tǒng)的性能情況，對(duì)可能出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行及時(shí)預(yù)判及校準(zhǔn)。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規(guī)格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
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空間分辨率是指圖像中可辨認(rèn)的臨界物體空間幾何長(zhǎng)度 的小極限,即對(duì)細(xì)微結(jié)構(gòu)的分辨率。線(xiàn)對(duì)卡，空間分辨率測(cè)試線(xiàn)對(duì)卡，列陣的線(xiàn)對(duì)束卡的用途：主要是用來(lái)測(cè)試X光攝影攝像等成像設(shè)備的分辨率能力的，是X射線(xiàn)放射衛(wèi)生質(zhì)量控制，質(zhì)量保證的射線(xiàn)分辨率范圍的主要檢測(cè)裝置和測(cè)試工具。狀態(tài)檢測(cè):在運(yùn)行中的設(shè)備，為評(píng)價(jià)其性能指標(biāo)符合要求而定期進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。穩(wěn)定性檢測(cè):為確定X射線(xiàn)設(shè)備或在給定條件下獲得的數(shù)值相對(duì)于一個(gè)初始狀態(tài)的變化符合控制標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行的質(zhì)量控制檢測(cè)。周期對(duì)系統(tǒng)的成像性能進(jìn)行持續(xù)檢測(cè)，尤其是對(duì)那些依賴(lài)定期維護(hù)設(shè)備。當(dāng)完成初始灰度級(jí)檢測(cè)后，只需對(duì)檢測(cè)到的圖像細(xì)節(jié)和條形圖的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，即可量化圖像質(zhì)量。對(duì)這些數(shù)據(jù)的持續(xù)追蹤記錄將有助于用戶(hù)跟蹤系統(tǒng)的性能情況，對(duì)可能出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行及時(shí)預(yù)判及校準(zhǔn)。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規(guī)格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
銷(xiāo)售產(chǎn)品編號(hào)：20221122-08
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