圓筒嵌鋼珠體膜
檢測(cè)模體定制生產(chǎn)廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，產(chǎn)品銷(xiāo)售編號(hào)：20221
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圓筒嵌鋼珠體膜
檢測(cè)模體定制生產(chǎn)廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，產(chǎn)品銷(xiāo)售編號(hào)：20221225-01。核磁共振成像質(zhì)量檢測(cè)模體，安裝固定于正方體容器內(nèi)，容器上下兩面的四角開(kāi)設(shè)有螺孔，所述模體包括幾何畸變測(cè)試組件、層厚測(cè)試組件、空間分辨力組件和低對(duì)比度分辨力測(cè)試組件，模體還能作為均勻性與噪聲測(cè)試組件。
1、放置在探測(cè)器上面，應(yīng)用合適條件進(jìn)行*。
2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個(gè)方格組成的矩陣，磁共振性能檢測(cè)模體，每個(gè)方格中三行僅有1個(gè)檢查點(diǎn)（成像點(diǎn))，其他行有﹖個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，1個(gè)在方格*，另1個(gè)隨機(jī)分布在1個(gè)角落，共計(jì)405個(gè)地對(duì)比度孔。
3、檢查點(diǎn)的光密度比之均勻背景光密度高，檢測(cè)點(diǎn)深度和直徑呈對(duì)數(shù)變化，直徑范圍:0.3--8.0mm，深度范圍:0.3-8.0mm（精度:0.01mm)
4、模體上所以標(biāo)記不透明，磁共振性能檢測(cè)模體供應(yīng)商，X射線(xiàn)成像可見(jiàn)。
5、在觀片燈箱上觀察模體影像，記錄影像中可探測(cè)到的較小細(xì)節(jié)。
測(cè)試立方體：圓柱形和球形 Magphan 都使用 10 厘米的測(cè)試立方體進(jìn)行圖像質(zhì)量測(cè)量。測(cè)試立方體由 6 毫米厚的聚碳酸酯塑料制成，外徑為 10 厘米。尼龍螺絲將設(shè)備固定在一起，允許您將測(cè)試板或立方體側(cè)面更換為三維配置。
圓筒嵌鋼珠體膜
檢測(cè)模體定制生產(chǎn)廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，產(chǎn)品銷(xiāo)售編號(hào)：20221225-01。核磁共振成像質(zhì)量檢測(cè)模體，安裝固定于正方體容器內(nèi)，容器上下兩面的四角開(kāi)設(shè)有螺孔，所述模體包括幾何畸變測(cè)試組件、層厚測(cè)試組件、空間分辨力組件和低對(duì)比度分辨力測(cè)試組件，模體還能作為均勻性與噪聲測(cè)試組件。
1、放置在探測(cè)器上面，應(yīng)用合適條件進(jìn)行*。
2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個(gè)方格組成的矩陣，磁共振性能檢測(cè)模體，每個(gè)方格中三行僅有1個(gè)檢查點(diǎn)（成像點(diǎn))，其他行有﹖個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，1個(gè)在方格*，另1個(gè)隨機(jī)分布在1個(gè)角落，共計(jì)405個(gè)地對(duì)比度孔。
3、檢查點(diǎn)的光密度比之均勻背景光密度高，檢測(cè)點(diǎn)深度和直徑呈對(duì)數(shù)變化，直徑范圍:0.3--8.0mm，深度范圍:0.3-8.0mm（精度:0.01mm)
4、模體上所以標(biāo)記不透明，磁共振性能檢測(cè)模體供應(yīng)商，X射線(xiàn)成像可見(jiàn)。
5、在觀片燈箱上觀察模體影像，記錄影像中可探測(cè)到的較小細(xì)節(jié)。
測(cè)試立方體：圓柱形和球形 Magphan 都使用 10 厘米的測(cè)試立方體進(jìn)行圖像質(zhì)量測(cè)量。測(cè)試立方體由 6 毫米厚的聚碳酸酯塑料制成，外徑為 10 厘米。尼龍螺絲將設(shè)備固定在一起，允許您將測(cè)試板或立方體側(cè)面更換為三維配置。
圓筒嵌鋼珠體膜
檢測(cè)模體定制生產(chǎn)廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，產(chǎn)品銷(xiāo)售編號(hào)：20221225-01。核磁共振成像質(zhì)量檢測(cè)模體，安裝固定于正方體容器內(nèi)，容器上下兩面的四角開(kāi)設(shè)有螺孔，所述模體包括幾何畸變測(cè)試組件、層厚測(cè)試組件、空間分辨力組件和低對(duì)比度分辨力測(cè)試組件，模體還能作為均勻性與噪聲測(cè)試組件。
1、放置在探測(cè)器上面，應(yīng)用合適條件進(jìn)行*。
2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個(gè)方格組成的矩陣，磁共振性能檢測(cè)模體，每個(gè)方格中三行僅有1個(gè)檢查點(diǎn)（成像點(diǎn))，其他行有﹖個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，1個(gè)在方格*，另1個(gè)隨機(jī)分布在1個(gè)角落，共計(jì)405個(gè)地對(duì)比度孔。
3、檢查點(diǎn)的光密度比之均勻背景光密度高，檢測(cè)點(diǎn)深度和直徑呈對(duì)數(shù)變化，直徑范圍:0.3--8.0mm，深度范圍:0.3-8.0mm（精度:0.01mm)
4、模體上所以標(biāo)記不透明，磁共振性能檢測(cè)模體供應(yīng)商，X射線(xiàn)成像可見(jiàn)。
5、在觀片燈箱上觀察模體影像，記錄影像中可探測(cè)到的較小細(xì)節(jié)。
測(cè)試立方體：圓柱形和球形 Magphan 都使用 10 厘米的測(cè)試立方體進(jìn)行圖像質(zhì)量測(cè)量。測(cè)試立方體由 6 毫米厚的聚碳酸酯塑料制成，外徑為 10 厘米。尼龍螺絲將設(shè)備固定在一起，允許您將測(cè)試板或立方體側(cè)面更換為三維配置。
